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殘余奧氏體測試樣品的制備

更新日期: 2022-12-05
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1.用于殘余奧氏體分析儀的樣品必須經過切割,將熱效應降至低值,由于大多數含有殘余奧氏體的鋼鐵比較堅硬,所以需要使用砂輪切割片磨削樣品,如果樣品不進行適當的冷卻,砂輪片存在嚴重的熱效應,可能導致樣品本身的殘余奧氏體發生改變。與采用鋼鋸切割比較,更建議使用砂輪切割。

2.樣品粗模式時需要使用銑床或高壓輥磨機,此種處理方法會改變表面形狀和殘余奧氏體,使得體內殘余奧氏體含量高于表面殘余奧氏體含量,在樣品打磨時將樣品切成小塊,可以有效的解決形變和殘余奧氏體變化。

3.殘余奧氏體分析儀需要使用標準金相濕磨和拋光的方法,需要使用粒徑為80#、120#、240#、320#、400#、600#的碳化硅或氧化鋁的細砂紙,其它材質或粒徑的砂紙也可能用到,最后使用6μm金剛石或當量粒徑的磨料進行拋光。

4.由于砂紙或過度 拋光引起的表面變形,可以改變樣品內的殘余奧氏體,在在初級的樣品拋光時也可以采用電解和化學拋光,用來保證金相級樣品制備。采用標準醋酸鉻溶液進行電解拋光至0.005-in,使用600#的砂紙或特定的化學電解液將鋼鐵拋光至6μm,可以保證金相級樣品制備,熱酸刻蝕拋光不推薦使用,在有選擇的刻蝕某相時,此項變為優先取向。

5.根據樣品尺寸選擇合適的樣品臺,保證X射線束能在樣品上進行2theta衍射。

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意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產商,其X射線產品線誕生于1966年,經過半個多世紀的開發和研究,該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。ARE X 為殘余奧氏體分析儀,無需依靠搭載模塊在常規XRD上實現殘余奧氏體測試,具有操作簡便、檢測速度快、數據準確等特點,對操作人員要求不高,做到輕松上手。

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