1.根據(jù)自已實(shí)際的應(yīng)用情況，選擇合適的儀器類(lèi)型

　　目前ICP光譜儀主要分為多道型、單道掃描型以及全譜直讀型，其中多道型和單道掃描型代表的是80年代的技術(shù)水平，它們以光電倍增管為檢測(cè)器，技術(shù)上非常成熟，但也較落后，其中多道型已幾乎退出歷史舞臺(tái)，單道掃描型以其合適的價(jià)格和靈活方便仍占有一定的*。全譜直讀型儀器代表了當(dāng)今ICP的技術(shù)水準(zhǔn)，它以CID或CCD(SCD)半導(dǎo)體器件為檢測(cè)器;中階梯光柵結(jié)合棱鏡(或平面光柵)構(gòu)成二維、高分辯率、高能量色散系統(tǒng)，能同時(shí)獲得各元素譜線的信息。此類(lèi)型儀器經(jīng)近十年的不斷完善和發(fā)展，目前已成為ICP光譜儀的主流。

　　根據(jù)不同的應(yīng)用領(lǐng)域，ICP光譜儀又有垂直觀測(cè)、水平觀測(cè)和雙向觀測(cè)之分，其中垂直觀測(cè)型儀器主要適用于基體較為復(fù)雜的冶金、地礦、有色金屬等領(lǐng)域;水平觀測(cè)型儀器適用于基體較為簡(jiǎn)單的水質(zhì)、環(huán)保、食品衛(wèi)生等領(lǐng)域;雙向觀測(cè)型儀器實(shí)際上是以水平觀測(cè)為主附加垂直觀測(cè)的儀器，它的*應(yīng)用范圍仍是基體較為簡(jiǎn)單的領(lǐng)域，雙向觀測(cè)能彌補(bǔ)水平觀測(cè)中所存在的易電離干擾、線性范圍變窄等一些缺陷。
 

　　2.確定儀器類(lèi)型后，如何考察儀器的主要性能

　　ICP光譜儀的主要性能指標(biāo)是檢出限、短時(shí)間穩(wěn)定性、長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性和儀器分辯率，測(cè)試這些指標(biāo)需要幾乎一整天的時(shí)間，好在這些指標(biāo)在儀器安裝調(diào)試時(shí)是必需要做的，考察儀器時(shí)，可以著重查看現(xiàn)有同類(lèi)型儀器的實(shí)際驗(yàn)收?qǐng)?bào)告，以證實(shí)所考察儀器的性能指標(biāo)。需要說(shuō)明的是，所有這些指標(biāo)是以簡(jiǎn)單水溶液標(biāo)準(zhǔn)(1~10ppm)和溶液來(lái)測(cè)試并理論計(jì)算所得，加上有些公司為了表現(xiàn)其“優(yōu)良”的“表觀”指標(biāo)，在儀器設(shè)計(jì)上采用了一些“技術(shù)”，以獲得不同條件下各自的*指標(biāo)，例如用小狹縫來(lái)表演其“好”的“分辯率”，用大狹縫來(lái)展現(xiàn)其“檢出限”等等。因此，這些指標(biāo)與實(shí)際分析時(shí)的性能往往有較大的差距，因?yàn)閷?shí)際樣品中會(huì)存在 的基體，而產(chǎn)生一定的干擾和基體效應(yīng)，人們期望的是在好的分辯率下獲得好的靈敏度和穩(wěn)定性。因此考察儀器時(shí)，除了要關(guān)心儀器的“表觀”指標(biāo)外，更應(yīng)重視儀器在實(shí)際樣品分析中所表現(xiàn)的真實(shí)性能。考察儀器時(shí)，通常可選用能反映用戶實(shí)際樣品情況的某些標(biāo)準(zhǔn)樣品來(lái)進(jìn)行考核，考核樣品應(yīng)能盡量展現(xiàn)儀器的性能：既有微量、痕量元素(特別是遠(yuǎn)紫外譜線P、S)——以反映儀器的實(shí)際檢出限和分辯率;又有主量元素——以反映全譜任意選擇的靈活性、線性和穩(wěn)定性。例如銅金礦、銅合金、合金鋼等國(guó)家標(biāo)樣。